光學(xué)薄膜是指在光學(xué)元件或獨(dú)立基板上，制鍍上或涂布一層或多層介電質(zhì)膜或金屬膜，從而改變光波傳遞特性，較為常見的光學(xué)薄膜器件有減反膜、高反膜、偏振膜、干涉濾光片、分光鏡等。我司提供較為全面的光學(xué)薄膜解決方案。
目錄
一、 膜系設(shè)計(jì) 2
二、 光學(xué)薄膜在鏡頭鬼像、雜散光中的仿真 4
三、 鍍膜加工項(xiàng)目承接 5
四、 光學(xué)薄膜測(cè)試設(shè)備與測(cè)量服務(wù) 7
五、 培訓(xùn)與書籍 9
一、膜系設(shè)計(jì)
行業(yè)現(xiàn)狀與產(chǎn)品-膜系設(shè)計(jì)工具
現(xiàn)如今光學(xué)薄膜的設(shè)計(jì)主要依靠軟件實(shí)現(xiàn)，而訊技光電擁有多種全面的薄膜分析與設(shè)計(jì)軟件。這些膜系設(shè)計(jì)軟件，擁有完備的光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)、分析、制造和故障排除的功能，可以提高光學(xué)鍍膜工程師的設(shè)計(jì)效率，從而最大限度降低制造成本。
全面的薄膜分析功能
手機(jī)玻璃蓋板顏色膜仿真
投影顯示中的冷光鏡膜系仿真
投影顯示中的隔紅外紫外濾光片仿真
啁啾反射鏡
鋁反射鏡
二、光學(xué)薄膜在鏡頭鬼像、雜散光中的仿真
雜散光與鬼像會(huì)導(dǎo)致圖像中存在多余的光，從而降低成像的品質(zhì)。對(duì)于探測(cè)系統(tǒng)來說，雜散光會(huì)降低系統(tǒng)的靈敏度。對(duì)于成像系統(tǒng)，可能會(huì)降低照片質(zhì)量。對(duì)于投影系統(tǒng)，雜散光會(huì)在光束中產(chǎn)生不必要的亮斑。這些都會(huì)影響光學(xué)系統(tǒng)的性能。
光學(xué)薄膜在光學(xué)鏡頭鬼像分析中的仿真
光學(xué)薄膜在包含雜散光的光機(jī)系統(tǒng)中的仿真
三、鍍膜加工項(xiàng)目承接
目前光學(xué)薄膜行業(yè)日趨成熟，但也逐漸細(xì)分化，多數(shù)鍍膜供應(yīng)商專精于自己的領(lǐng)域。我司提供的是膜系設(shè)計(jì)到加工一條龍服務(wù)，對(duì)于有這類需求的客戶，您不必再苦苦尋找供應(yīng)商，我們幫您解決。
1）我司可以提供客制化的光學(xué)薄膜加工服務(wù)，可實(shí)現(xiàn)如抗反射薄膜，高反射薄膜，濾光片薄膜，斜入射薄膜等。
帶通濾光片
2）蛾眼減反結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)與加工承接
目前，我們采用納米壓印技術(shù)，可以在玻璃或塑料膜表面制作大面積的蛾眼結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)減反效果。在可見光范圍內(nèi)可以將材料表面的反射率降低到小于0.2%。在紅外波段，結(jié)合納米壓印和等離子刻蝕工藝，可以在硅表面加工蛾眼結(jié)構(gòu)來減少其對(duì)紅外光的反射。
除了納米壓印技術(shù)外，訊技光電可以利用具有氣相沉積層和納米結(jié)構(gòu)層相結(jié)合的技術(shù)，解決非常寬的光譜范圍和高入射角問題。根據(jù)需求我們可以優(yōu)化該微納結(jié)構(gòu)和膜層，使其適用于寬光譜范圍（300nm- 2500 nm）和入射角范圍（0° - 75°），并且可用于任何基材材料（包括塑料、玻璃和石英等）。
該技術(shù)解決方案具有以下特點(diǎn)：
• 通過低壓等離子體處理生成抗反射納米結(jié)構(gòu)
• 對(duì)于斜入射光具有優(yōu)異的抗反射性能
• 表面耐清潔
• 耐候性好，與傳統(tǒng)的抗反射涂層相比，不會(huì)因溫度變化而出現(xiàn)開裂
• 非常適合小尺寸光學(xué)鏡片和類似部件的大規(guī)模生產(chǎn)
• 是一種快速且具有成本效益的技術(shù)
除了抗反射外，還可實(shí)現(xiàn)以下功能：
• 超疏水或超親水（防霧特性）
• 高吸收性的黑色涂層
• 導(dǎo)電 / 抗靜電
四、光學(xué)薄膜測(cè)試設(shè)備與測(cè)量服務(wù)
薄膜特性測(cè)試需要專業(yè)的設(shè)備，訊技光電提供專業(yè)的光譜儀，橢偏儀，分光光度計(jì)，膜厚測(cè)量?jī)x等，除此以外我們提供的測(cè)試能力有：
超寬光譜測(cè)量范圍（ 185-5200nm ）下，可測(cè)平板光學(xué)材料的光學(xué)薄膜特性：絕對(duì)反射率、絕對(duì)透過率、薄膜材料吸收率、光學(xué)密度；
透明/白透明以及所有半導(dǎo)體薄膜厚度及光學(xué)常數(shù)無損測(cè)量，
膜厚測(cè)量支持1nm-260um（取決于材料）
可對(duì)鏡頭組進(jìn)行快速的軸上測(cè)試；
可對(duì)凹/凸面鏡的任意區(qū)域進(jìn)行無人值守的軸上/軸外反射率測(cè)試；
測(cè)試曲線示例1
測(cè)試曲線示例2
光學(xué)常數(shù)擬合
膜厚儀基本參數(shù)：
五、培訓(xùn)與書籍
拓展業(yè)務(wù)-培訓(xùn)與書籍
許多鍍膜行業(yè)的工程師，對(duì)于薄膜軟件不會(huì)使用，想要系統(tǒng)地學(xué)習(xí)一下（以新手工程師居多），或是想要更多地了解一些鍍膜工藝相關(guān)知識(shí)等。針對(duì)于此，我司提供了培訓(xùn)課程以及書籍
1） 我司有線上Essential Macleod教學(xué)課程，同時(shí)我司每年都有多場(chǎng)鍍膜類的線下課程，會(huì)邀請(qǐng)鍍膜行業(yè)專家來參與授課，未來也會(huì)持續(xù)設(shè)置鍍膜類課程，幫助客戶學(xué)習(xí)Macleod軟件，了解鍍膜行業(yè)相關(guān)問題
2） 針對(duì)Essential Macleod的書籍我司目前在售有：《光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)軟件Essential Macleod中文手冊(cè)》、《基于Essential Macleod軟件光學(xué)薄膜設(shè)計(jì)技術(shù)》
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